Durchlicht-, Auflicht- und Polarisationsmikroskopie

Ansprechpartner
Dipl.-Phys. Robert Glöckner

Die Auflichtmikroskopie ist geeignet Oberflächenstrukturen zu untersuchen, z. B. nach Bewitterung.

Die Dunkelfeldmikroskopie ist eine Streulichtuntersuchung und eignet sich zur Analyse kolloidaler Verteilungen.

Die Durchlichtmikroskopie ermöglicht die Untersuchung der (lokalen) Dispergierqualität.

Die Polarisationsmikroskopie eignet sich zur Analyse von Morphologie, Spannungen, Flusslinien sowie Lunker im Bauteil.

Mit speziellen Methoden ist es möglich, großflächige Aufnahmen im cm-Maßstab bei höchst möglicher Auflösung zu generieren. Die Bilder können mittels Neuigkeitsfilter (z. B. vor und nach einer Behandlung) und statistischen Methoden (Farbverteilungen) ausgewertet werden.