Rasterkraftmikroskopie

Ansprechpartner:
Dipl.-Ing. B. Viel

Die Rasterkraftmikroskopie (atomic force microscopy, AFM) ist wie die REM für die Analyse der Oberflächen von Formkörpern, dünnen Schichten und Brüchen geeignet. Mit einer in der Spitze atomaren Metallnadel wird die Oberfläche im molekularen Abstand abgetastet, wobei ihr Höhenprofil sowie ihre lokale Härte aufgezeichnet werden. Über die elektronen-mikroskopische Analyse hinaus wird somit die Rauhigkeit der Oberfläche quantitativ bestimmt, außerdem auch die Verformbarkeit an jeder Stelle des Präparats mit molekularer Auflösung. Insbesondere Systeme, die sich durch harte Mikrophasen auszeichnen, z.B. die submikroskopischen Lamellen inkristallinen Thermoplasten oder die Partikeln in mineralgefüllten Polymeren, lassen sich so charakterisieren.

• Betriebsmodi:
  • Contact Mode
  • Non-Contact Mode
  • Tapping Mode u.a.
• Anwendungsmöglichkeiten:
  • Oberflächenanalytik
  • Rauigkeitsbestimmung
  • Füllstoffanalyse (vgl. AFM)
  • Oberflächenhärtemessung
  • Bruchflächen
  • Dünnschichtpräparate